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    膜厚計(jì)L-500:一種具備內(nèi)置打印機(jī)和塊/組統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能的膜厚測(cè)量?jī)x器

    發(fā)布時(shí)間: 2023-11-22  點(diǎn)擊次數(shù): 280次

    摘要:
    zhuanli涉及一種膜厚計(jì)L-500,它是一款頂級(jí)型號(hào)的膜厚測(cè)量?jī)x器,具備內(nèi)置打印機(jī)和塊/組統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能。該膜厚計(jì)還支持使用新開(kāi)發(fā)的探頭進(jìn)行更精確的測(cè)量。該zhuanli旨在提供一種先進(jìn)的膜厚測(cè)量?jī)x器,以滿足磁性金屬和非磁性金屬上涂層厚度的精確測(cè)量需求。



    技術(shù)背景:
    在涂層行業(yè)中,測(cè)量涂層厚度是一項(xiàng)重要的工作。膜厚計(jì)是一種常用的測(cè)量?jī)x器,可用于測(cè)量磁性金屬上的非磁性涂層或非磁性金屬上的絕緣涂層厚度。然而,現(xiàn)有的膜厚計(jì)仍存在一些局限性,例如測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和數(shù)據(jù)處理的便捷性等方面。

    發(fā)明內(nèi)容:
    zhuanli提供了一種新型的膜厚計(jì)L-500,它具備內(nèi)置打印機(jī)和塊/組統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能,為用戶提供更便捷、高效的測(cè)量和數(shù)據(jù)處理體驗(yàn)。該膜厚計(jì)采用電磁感應(yīng)或渦流的測(cè)量方法,并通過(guò)選擇不同的探頭類(lèi)型實(shí)現(xiàn)對(duì)磁性金屬或非磁性金屬上涂層厚度的測(cè)量。

    膜厚計(jì)L-500具有可調(diào)節(jié)的測(cè)量范圍,根據(jù)所選擇的探頭類(lèi)型,電磁型探頭的測(cè)量范圍為0至2,500μm,渦流型探頭的測(cè)量范圍為0至1,200μm。該膜厚計(jì)具備高精度的測(cè)量能力,其中電磁型探頭的測(cè)量精度小于15μm時(shí)為±0.3μm,15μm以上1,000μm時(shí)為±2%,1,000μm以上時(shí)為±3%;渦流型探頭的測(cè)量精度為50μm以下時(shí)為±1.0μm,50μm以上時(shí)為±2%。

    膜厚計(jì)L-500支持塊/組統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能,可記錄測(cè)量次數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、最大值、最小值等統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),為用戶提供了數(shù)據(jù)分析和比較的便利性。同時(shí),該膜厚計(jì)還配備了內(nèi)置打印機(jī),可將測(cè)量結(jié)果直接打印輸出。

    此外,該膜厚計(jì)還支持外部輸出功能,通過(guò)USB串口與其他設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸和處理,提高了數(shù)據(jù)管理的靈活性。膜厚計(jì)L-500可通過(guò)AC100-240V電源或8節(jié)1.5V的AA堿性電池供電,具有較高的適應(yīng)性。

    zhuanli還包括膜厚計(jì)L-500的配件和選項(xiàng),例如鐵底座和鋁底座、標(biāo)準(zhǔn)板、膜厚計(jì)測(cè)量架LW-990以及校準(zhǔn)服務(wù)等,以滿足不同用戶的實(shí)際需求。

    創(chuàng)新點(diǎn):

    1. 膜厚計(jì)L-500具備內(nèi)置打印機(jī)和塊/組統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能,為膜厚測(cè)量提供了更高效、便捷的解決方案。

    2. 通過(guò)選擇不同的探頭類(lèi)型,該膜厚計(jì)可實(shí)現(xiàn)對(duì)磁性金屬或非磁性金屬上涂層厚度的精確測(cè)量。

    3. 膜厚計(jì)L-500支持外部輸出功能,提供了與其他設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)交互的靈活性。

    4. 該膜厚計(jì)的配件和選項(xiàng)豐富多樣,可滿足不同用戶的個(gè)性化需求。

    結(jié)論:
    zhuanli描述了一種膜厚計(jì)L-500,具備內(nèi)置打印機(jī)和塊/組統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能,可用于測(cè)量磁性金屬和非磁性金屬上涂層的厚度。該膜厚計(jì)在測(cè)量范圍、精度、數(shù)據(jù)處理和靈活性等方面具備*的技術(shù)特點(diǎn),能夠滿足涂層行業(yè)對(duì)膜厚測(cè)量的高要求。該zhuanli為膜厚計(jì)領(lǐng)域的技術(shù)發(fā)展帶來(lái)了新的創(chuàng)新和改進(jìn),并具有廣泛的應(yīng)用前景。


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