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    膜厚計(jì)的種類(lèi)及用途范圍

    發(fā)布時(shí)間： 2021-04-15　　點(diǎn)擊次數(shù)： 1074次

    對(duì)使用金屬的工業(yè)產(chǎn)品，在表面進(jìn)行涂飾和鍍金等處理。在表面處理層中，薄的話(huà)容易產(chǎn)生腐蝕，厚的話(huà)經(jīng)濟(jì)損失會(huì)變大，而且厚度不一定的話(huà)會(huì)降低不美觀的商品價(jià)值。也就是說(shuō)，在涂飾和鍍金方面正確管理厚度是很重要的，承擔(dān)這一點(diǎn)的測(cè)定器是膜厚計(jì)。

     

    電磁膜厚計(jì)LE-200J

     

     

    • 內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測(cè)厚儀型號(hào)
    • 測(cè)量范圍0-1500μm
    • 小于15μm的測(cè)量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％
    • 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)1500點(diǎn)，統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

     

    主要規(guī)格

    測(cè)量方式電磁感應(yīng)式
    測(cè)量目標(biāo)磁性金屬上的非磁性涂層
    測(cè)量范圍0-1500μm或60.00密耳
    測(cè)量精度小于15μm：±0.3μm，15μm或以上：±2％
    解析度小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1.0μm
    符合標(biāo)準(zhǔn)JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376
    統(tǒng)計(jì)功能測(cè)量次數(shù)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，最小值，程序段號(hào)
    探測(cè)單點(diǎn)接觸恒壓型（LEP-J）
    顯示方式數(shù)字（LCD，最小顯示位數(shù)0.1μm）
    外部輸出RS-232C接口（傳輸速度2400bps）
    電源供應(yīng)AC100V（50 / 60Hz）或電池1.5V（AA堿性）主機(jī)x 6，打印機(jī)x 4
    尺寸/質(zhì)量120（W）x 250（D）x 55（H）毫米，1.0公斤
    配件標(biāo)準(zhǔn)板（10μm，50μm，100μm，350μm，800μm，1 mm，所有近似值，各1張），鐵底座，標(biāo)準(zhǔn)板盒，電池1.5 V（AA堿性），AC適配器，探針適配器，打印機(jī)紙，攜帶案件
    選項(xiàng)L型探頭（LEP-21L），RS-232C連接電纜，數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger KLD-01”，“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Standard”，“ McWAVE Professional”，“ MultiProp”
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