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日本densoku電阻式膜厚計(jì)RST-231 測(cè)厚儀
更新日期：2024-05-11
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
日本densoku電阻式膜厚計(jì)RST-231
日本densoku電阻式膜厚計(jì)RST-231
易于操作且時(shí)間短（0.7秒）
，可高精度測(cè)量絕緣體上的金屬膜
-在0.7秒內(nèi)測(cè)量絕緣體上的金屬膜-
使用計(jì)算機(jī)
易于查看的屏幕-易于校準(zhǔn)和測(cè)量-
可以立即查看直方圖，輪廓等-
異常值檢測(cè)功能
電阻膜厚計(jì)RST-231的特點(diǎn)
在0.7秒內(nèi)測(cè)量絕緣子上的金屬膜
它可以在短時(shí)間內(nèi)（0.7秒）高精度測(cè)量絕緣體上的金屬膜（銅箔，印刷電路板的鍍層等）。
易于閱讀的屏幕配置
屏幕大而明亮，使用個(gè)人計(jì)算機(jī)時(shí)很容易看到。
易于校準(zhǔn)和測(cè)量
易于校準(zhǔn)和測(cè)量。可以選擇兩個(gè)測(cè)量范圍（2至24μm，10至120μm）。
可以立即看到各種數(shù)字
直方圖，輪廓圖和xR圖表在統(tǒng)計(jì)處理后始終立即可用。
離群值檢測(cè)功能
如果設(shè)定了膜厚的上限和下限，則將通知異常值。
支持更換每個(gè)探針
如果探頭的探頭損壞，則可以為每個(gè)探頭更換它，并以低價(jià)維修。
易于統(tǒng)計(jì)處理
可以保存每個(gè)通道的測(cè)量數(shù)據(jù)，以后可以為測(cè)量數(shù)據(jù)設(shè)置統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目以進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。
最多可以注冊(cè)40個(gè)頻道
由于最多可以注冊(cè)40個(gè)通道，因此可以根據(jù)用戶名和部件號(hào)??分別注冊(cè)來管理通道。
支持更換每個(gè)探針
使用4探針（開爾文型），即使在雙面板和多層板上也可以不受背面或內(nèi)層的影響，進(jìn)行高精度的測(cè)量。
直方圖
xR控制圖
統(tǒng)計(jì)顯示
| 搜索間隔 | 探針尖 | |
| KD-110 | 1毫米 | 0.1R *標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品 |
| KD-105 | 1毫米 | 0.05R |
| KD-120 | 1毫米 | 0.2R |
| KD-210 | 2毫米 | 0.1R |
| KD-220 | 2毫米 | 0.2R |
測(cè)量原理
 | 探頭有四個(gè)金屬針（探針），它們直立在一條直線上。 使四個(gè)探針與要測(cè)量的絕緣體上的金屬片或鍍金屬表面接觸。恒定電流（I）穿過兩個(gè)外部探頭，以測(cè)量電壓（V）。可以在特定條件下通過以下公式計(jì)算與探針接觸的金屬片或金屬鍍層的厚度（T）。 T = K×I÷V 這里，K是一個(gè)常數(shù) ，因此可以通過測(cè)量?jī)蓚€(gè)內(nèi)部探針之間的電壓來測(cè)量金屬葉片或金屬鍍層的厚度。 |
電阻式膜厚計(jì)RST-231的規(guī)格? 4探針探針規(guī)格
| 型號(hào)（主體） | RST-231型 |
| 測(cè)量原理 | 4探針電阻型 |
| 測(cè)量范圍 | 2至24μm，10至120μm |
| 通道數(shù) | 40個(gè)頻道 |
| 資料容量 | 100,000個(gè)數(shù)據(jù) |
| 展示 | 取決于計(jì)算機(jī)的顯示器屏幕 |
| 統(tǒng)計(jì)處理 | 值，最小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，直方圖，上限和下限設(shè)置 |
| 電源 | AC100-240V 50 / 60Hz，10VA（主機(jī)） |
| 尺寸 | 280（W）x230（D）x88（H）（主機(jī)） |
| 配件 | 4探針KD-110 標(biāo)準(zhǔn)板TCU-145探針 |
