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日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5

日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5

更新日期：2024-05-11

訪問(wèn)量：1133

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商

生產(chǎn)地址：

簡(jiǎn)要描述：
日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3
使用光電倍增管的高靈敏度光子測(cè)量設(shè)備。
除了亮度之外，光譜測(cè)量也是可能的。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，可用于所有應(yīng)用中的研究。

日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3

日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3

 

 

 

 

化學(xué)發(fā)光分析儀

 

我們還生產(chǎn)滿(mǎn)足用戶(hù)和實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)需求的設(shè)備。

 

CLA-FS5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測(cè)量設(shè)備。
除了亮度之外，光譜測(cè)量也是可能的。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，可用于所有應(yīng)用中的研究。

 

 

CLA-ID5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測(cè)量設(shè)備。
只能測(cè)量亮度。當(dāng)不需要光譜測(cè)量時(shí)推薦使用。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量測(cè)

使用超靈敏CCD相機(jī)的設(shè)備。可以測(cè)量微弱發(fā)光的圖像，并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它還可以同時(shí)測(cè)量多個(gè)樣品。

 

 

CLA-SP3

 

定做產(chǎn)品

結(jié)合了CCD相機(jī)和衍射光柵的瞬時(shí)光度光譜測(cè)量設(shè)備。可以在短時(shí)間內(nèi)（0.1秒）測(cè)量高分辨率光譜。盡管需要一定量的光發(fā)射，但是也可以積分測(cè)量時(shí)間并測(cè)量光譜中隨時(shí)間的變化。

 

化學(xué)發(fā)光分析儀

 

我們還生產(chǎn)滿(mǎn)足用戶(hù)和實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)需求的設(shè)備。

 

CLA-FS5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測(cè)量設(shè)備。
除了亮度之外，光譜測(cè)量也是可能的。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，可用于所有應(yīng)用中的研究。

 

 

CLA-ID5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測(cè)量設(shè)備。
只能測(cè)量亮度。當(dāng)不需要光譜測(cè)量時(shí)推薦使用。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量測(cè)

使用超靈敏CCD相機(jī)的設(shè)備。可以測(cè)量微弱發(fā)光的圖像，并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它還可以同時(shí)測(cè)量多個(gè)樣品。

 

 

CLA-SP3

 

定做產(chǎn)品

結(jié)合了CCD相機(jī)和衍射光柵的瞬時(shí)光度光譜測(cè)量設(shè)備。可以在短時(shí)間內(nèi)（0.1秒）測(cè)量高分辨率光譜。盡管需要一定量的光發(fā)射，但是也可以積分測(cè)量時(shí)間并測(cè)量光譜中隨時(shí)間的變化。

 

 

化學(xué)發(fā)光分析儀

 

我們還生產(chǎn)滿(mǎn)足用戶(hù)和實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)需求的設(shè)備。

 

CLA-FS5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測(cè)量設(shè)備。
除了亮度之外，光譜測(cè)量也是可能的。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，可用于所有應(yīng)用中的研究。

 

 

CLA-ID5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測(cè)量設(shè)備。
只能測(cè)量亮度。當(dāng)不需要光譜測(cè)量時(shí)推薦使用。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量測(cè)

使用超靈敏CCD相機(jī)的設(shè)備。可以測(cè)量微弱發(fā)光的圖像，并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它還可以同時(shí)測(cè)量多個(gè)樣品。

 

 

CLA-SP3

 

定做產(chǎn)品

結(jié)合了CCD相機(jī)和衍射光柵的瞬時(shí)光度光譜測(cè)量設(shè)備。可以在短時(shí)間內(nèi)（0.1秒）測(cè)量高分辨率光譜。盡管需要一定量的光發(fā)射，但是也可以積分測(cè)量時(shí)間并測(cè)量光譜中隨時(shí)間的變化。

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