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日本hrd熱范圍TM3

日本hrd熱范圍TM3

更新日期：2024-05-12

訪問量：706

廠商性質：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：
日本hrd熱范圍TM3
用于測量薄膜和微小區(qū)域的熱發(fā)射率
用于測量薄膜和微小區(qū)域的熱發(fā)射率

日本hrd熱范圍TM3

日本hrd熱范圍TM3

 

特征

  • 熱物理特性顯微鏡是一種測量熱效率的設備，熱效率是熱物理特性值之一。
  • 它是一種可以通過點，線和表面來測量樣品的熱性能的設備。
  • 還可以測量微米級的熱物理性質分布，這在常規(guī)的熱物理性質測量裝置中被認為是困難的。
  • 它是一臺可對熱物理性質進行非接觸式和高分辨率測量的設備。
  • 檢測光斑直徑為3μm，可在微小區(qū)域內(nèi)進行高分辨率的熱物理性質測量（點/線/面測量）。
  • 由于可以通過改變深度范圍進行測量，因此可以測量從薄膜/多層膜到塊狀材料。
  • 您也可以在板上測量樣品。
  • 激光非接觸式測量。
  • 可以檢測薄膜下方的裂縫，空隙和剝離。

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熱物理顯微鏡的測量原理（概述）

在樣品上形成金屬薄膜，并用加熱激光器定期加熱。

  1. 由于金屬的反射率具有隨表面溫度而變化的性質（熱電阻法），因此通過捕捉與加熱激光同軸照射的檢測激光的反射強度的變化，來測量表面的相對溫度變化。 。
  2. 熱量從金屬薄膜傳播到樣品，導致表面溫度響應的相位延遲。該相位延遲取決于樣品的熱性質。通過測量加熱光和檢測光之間的相位延遲來獲得熱效率。
熱物理顯微鏡的測量原理（概述）

    主要規(guī)格

    名稱/產(chǎn)品名稱熱物理特征顯微鏡/熱顯微鏡
    測量方式熱物理性質分布測量（1D，2D，1點）
    測量項目熱效率，（熱擴散率），（熱導率）
    檢測光斑直徑約3μm
    1點測量標準時間10秒
    待測薄膜厚度從幾百納米到幾十微米
    重復精度耐熱玻璃和硅的熱效率小于±10％
    樣本1.樣品架30 mm x 30 mm厚度5 mm 
    2.板狀樣品30 mm x 30 mm以下且3 mm以下
    • 需要對樣品表面進行鏡面拋光。
    • 樣品表面需要進行Mo濺射。
    工作溫度極限24°C±1°C（根據(jù)設備中內(nèi)置的溫度傳感器）
    載物臺移動距離? X軸方向20mm
    ? Y軸方向20mm
    ? Z軸方向10mm
    激光加熱半導體激光波長：808nm
    激光檢測半導體激光波長：658nm
    電源供應交流100V 1.5kVA
    標準配件樣品架，參考樣品
    選項光學平臺，空調(diào)，空調(diào)房，濺射設備

     

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