日本進(jìn)口發(fā)射率測量儀TSS-5X-3

日本進(jìn)口發(fā)射率測量儀TSS-5X-3

日本進(jìn)口japansensor發(fā)射率測量儀TSS-5X-3

量化材料表面處理中的細(xì)微差別

使用TSS-5X-3，您可以輕松地測量室溫下的發(fā)射率。
樣品的發(fā)射率以易于閱讀的方式數(shù)字顯示，并且易于操作。

從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線，
它廣泛用于航天，半導(dǎo)體，核電等領(lǐng)域。

我們已從TSS-5X-2更新為TSS-5X-3。

■更新要點(diǎn)

（1）更換交流電源
插座電源區(qū)域已更新，并更改為普通交流電源插座。
現(xiàn)在可以更換適用于其他國家的配電盤。
除此之外，還集成了電源開關(guān)和保險(xiǎn)絲盒。
它看起來很整潔，并提高了可用性。

（2）可以根據(jù)目的地選擇
電源線。請從下表中選擇適合您國家的電源線。
 

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 量化材料表面處理中的細(xì)微差別

  通過了解發(fā)射率，可以提高加熱設(shè)備等的輻射效率，并且可以設(shè)計(jì)出注重散熱和隔熱的材料，這也可以用于節(jié)能。

  TSS-5X-3使用兩種類型的標(biāo)準(zhǔn)件（發(fā)射率0.06和0.97），這些標(biāo)準(zhǔn)件的發(fā)射率是已知的，并且可以在不加熱樣品的情況下輕松地在室溫下進(jìn)行測量。

  從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線，它廣泛用于航天，半導(dǎo)體，核電等領(lǐng)域。

   

  測量原理

  

  紅外線被樣品反射，其中一些紅外線穿過半球形黑體爐頂部的小孔進(jìn)入。
  檢測元件以恒定速率檢測能量。

   規(guī)格：

   

  模型	TSS-5X-3
  測量方式	紅外探測反射能量測量方法
  測量波長	2-22微米
  測量范圍	發(fā)射率：0.00-1.00
  準(zhǔn)確率評估	滿量程的±1％
  測量面積	Φ15毫米
  實(shí)測距離	12mm（通過檢測頭基座固定的方法）
  樣品溫度	10-40°C（室溫）
  測量值顯示	LED數(shù)字顯示（最多顯示第二位）
  輸出	0-0.1V，0-1V，滿量程
  工作溫度/濕度范圍	10-45°C / 35-85°C（無冷凝）
  電源/電源	AC100-240V，50 / 60Hz，30W *不包括電源線。選擇符合規(guī)格的電源線。
  尺寸/質(zhì)量	檢測頭：Φ51x 137Lmm，0.6kg（使用3000Lmm機(jī)械手電纜） 測量單位：156H x 306W x 230Dmm（不包括橡膠腳手柄等），5.0kg
  配件	發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)件存儲箱：84H x 238W x 185Dmm，1.1kg 發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)件：0.06（鏡面），0.97（黑體）各1個(gè)