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日本horiba高光光澤度計 IG-410

日本horiba高光光澤度計 IG-410

更新日期:2024-05-16

訪問量:717

廠商性質:經銷商

生產地址:

簡要描述:
日本horiba高光光澤度計 IG-410
高光澤度檢查儀 IG-410 是一種便于現場工作的便攜式類型,只需將與顯示單元分開的測量單元應用于被攝體即可進行測量。以近紅外線為光源,測定光澤度1000(鏡面反射率99%)。

日本horiba高光光澤度計 IG-410

概述

高光澤度檢查儀 IG-410 是一種便于現場工作的便攜式類型,只需將與顯示單元分開的測量單元應用于被攝體即可進行測量。以近紅外線為光源,測定光澤度1000(鏡面反射率99%)。

無需預熱。它非常適合對表面光澤度要求高的產品進行質量控制,例如汽車前照燈等照明用反射器、復印機用反射器和硅晶片。

特征

  • 即使在金屬等高光澤區(qū)域也能量化“模糊"
    Gloss Checker IG 系列的產品陣容中新增了可測量金屬等高光澤區(qū)域的 IG-410。測量范圍為 0 到 100,是傳統型號的 10 倍。也可以測量鏡面樣品。

  • 緊湊輕巧的設計,易于現場測量
    重量僅為 350g,便于攜帶。由于它是一鍵式操作,因此只需將其帶到生產現場即可輕松測量。
    由于采用LED作為光源,因此無需擔心光源的壽命。

  • 低光澤度可以通過
    在 2 個范圍之間切換來測量??梢栽?0 到 100 和 0 到 100 的 2 個范圍之間切換。每個范圍都有自己的校準板。
    IG-410 不僅可以測量高光澤金屬,還可以測量低光澤區(qū)域,例如涂在金屬板上的樣品。

應用示例

  • 用于檢查金屬產品表面狀態(tài)的光潔度

  • 用于檢查軋制鋁板和不銹鋼板的外觀

  • 用于檢查電鍍產品的外觀

  • 用于檢查硅晶片的表面光潔度

* 由于光澤度是通過光的反射來測量的,因此測量點必須是平坦的。

日本horiba高光光澤度計 IG-410

規(guī)格

光學系統

入射角 60° -接收角 60°

測量區(qū)域

3 x 6 毫米橢圓

光源

LED(波長890nm)

受光部分

SPD(硅光電二極管)

測量范圍
(顯示分辨率)

100 范圍:0.00 到 10.0(顯示分辨率 0.1)
1000 范圍:0 到 100(顯示分辨率 1)

重復性

滿量程的 ± 1%

電源

4 節(jié) AA 電池

電池壽命

200 小時或更長時間(使用堿性電池)

工作溫度限制

10-40℃

尺寸

機身:75W x 34D x 140H mm
傳感器:30W x 45D x 88H mm

大量的

約350g(內置電池)

其他功能

自動校準、自動關機
量程切換顯示(100/1000) 超量程
顯示、電池電量顯示
測量值保持
校準值設置

配件

用于 100 范圍和 1000 范圍的校準標準板


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