日本densoku渦流膜厚計DMC-211
日本densoku渦流膜厚計DMC-211
?非常適合于1秒鐘內進行無損測量檢查?
使用個人計算機輕松進行校準和測量操作?
只需將探頭應用于被測物體即可自動捕獲測量值
?特性曲線(校準曲線)是標準的70個存儲器
?每個通道都注冊了公司名稱,部件號,批號
渦流膜厚儀DMC-211的特點
數字顯示測量值,讀數
在短時間內(1秒以內),大多數金屬上的膜(鋁上的氧化膜,鋅/鉻上的鍍層/鉻/鐵上的鍍層),非金屬上的大多數金屬膜(塑料上的鍍層等)都可以測量,具有破壞性,它是檢查的理想選擇。
使用個人計算機易于操作
通過使用個人計算機可以輕松進行校準和測量等操作。可以選擇各種測量模式,從而易于測量小零件,例如螺絲頭,線材和壓鑄產品。
配備[自動捕獲]模式
在[自動捕獲]模式下,只需將探頭觸碰到要測量的對象并將其釋放,即可自動捕獲測量值。
具有豐富的特性曲線(校準曲線)的存儲器
標準存儲70條自動選擇特性曲線(校準曲線)。如果您有用于特殊材料的標準板,則可以創(chuàng)建并輸入新的特性曲線(校準曲線)。
公司信息渠道注冊功能
可以為每個通道注冊對方的公司名稱,部件號和批號。
頻道總數:40頻道
配備統(tǒng)計處理功能
可以保存每個通道的測量數據,以后可以為測量數據設置統(tǒng)計項目以進行統(tǒng)計處理。
測量單位
測量單位是毫米,微米,密耳,密耳。
可以隨時更位,并自動轉換測量值。
測量原理
當載有高頻電流的探頭(測量線圈)靠近金屬時,在金屬表面會產生渦電流。該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率,金屬的電導率,厚度,形狀等的影響,并且穿透深度及其大小不同。 然后,渦流流動以抵消探針的高頻磁場,從而探針的高頻電阻值改變。由于高頻電阻的這種變化的幅度通常與薄膜厚度值不成比例,因此通過將其與內置或用戶創(chuàng)建的特性曲線(校準曲線)進行比較,可以將其轉換為薄膜厚度值,并顯示在在計算機屏幕上顯示它。 |
渦流膜厚儀DMC-211的規(guī)格
型號(主體) | Dermes DMC-211型 |
原則 | 渦流法 |
測量方式 | 厚度測量 |
通道數 | 40個頻道 |
資料容量 | 100,000個數據 |
展示 | 取決于計算機的顯示器屏幕 |
統(tǒng)計處理 | 值,最小值,平均值,標準偏差,直方圖,上限和下限設置 |
電源 | AC100-240V,50 / 60Hz 10VA(主機) |
重量 | 3.0公斤 |
尺寸 | 280(寬)x 230(深)x 88(高)毫米 |
(注)規(guī)格如有變更,恕不另行通知。
渦流膜厚儀DMC-211的探頭規(guī)格
1. 探頭有效范圍使用超細探頭時 | φ5mm的 φ3mm的 |
2.探頭線長 | 900毫米 |
3.根據導向器的類型可以在彎曲的表面上進行測量 | |
4.探頭類型 | MP類型...平坦凹凸曲面(標準) SM類型...平坦凹凸曲面(微細的) RP類型...凹面,管內面 SR型...用于小直徑管道內表面 由所述膜測得的探頭A,B的厚度,有C和D四種類型。 |
5.探針指南 | #180:平面測量 #120:φ25-60mm凸曲面測量 |
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