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日本densoku渦流膜測厚儀DS-110
更新日期:2024-05-11
訪問量:718
廠商性質:經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:
簡要描述:
日本densoku渦流膜測厚儀DS-110晶體振蕩可實現(xiàn)彎曲/球形對的高精度和短測量時間。
日本densoku渦流膜測厚儀DS-110
日本densoku渦流膜測厚儀DS-110
?測量值顯示為數(shù)字且易于閱讀
?接通電源后立即開始測量,測量時間在1秒以內(nèi)
?晶體振蕩法的高穩(wěn)定性(±1%)高精度?可進行
檢查無損
?直接讀取由于是表達方式,因此無需轉換
渦流膜厚儀DS-110的特點
易于閱讀的數(shù)字
測量值顯示是數(shù)字的,易于閱讀。
可以立即進行測量
開關一打開就可以進行測量。測量時間也在1秒以內(nèi)。
高穩(wěn)定性(±1%)高精度
由于采用了晶體振蕩方法,因此具有很高的穩(wěn)定性(±1%)和高精度。
可以檢查
由于它是非破壞性的,因此可以進行的檢查。
無需轉換
它是直接讀取類型,不需要轉換。
支持各種測量
它可以測量金屬上的薄膜,鍍層,油漆,樹脂等。(例如:鋁上的氧化膜,鐵上的鋅鍍層,噴漆)
最多可保存1000個數(shù)據(jù)
一條檢查線可以保存1000條數(shù)據(jù)。
還可以測量非金屬上的金屬涂層
它可以測量非金屬上的金屬涂層(例如,塑料上的鍍層)。
標配4種類型,最多可以測量70種薄膜厚度
切換開關最多可以測量4種類型的膜厚。另外,通過在制造商處更換檢測線,可以測量70多種類型的膜厚。
可以在彎曲表面,球形表面和內(nèi)部管道上進行測量
也可以在彎曲表面和球形表面上進行測量。另外,可以測量管等的內(nèi)表面(φ12.7mm以上)。
打印輸出功能
您可以打印出測量數(shù)據(jù)和經(jīng)過統(tǒng)計處理的值。
測量原理
當載有高頻電流的探頭(測量線圈)靠近金屬時,在金屬表面會產(chǎn)生渦電流。該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率,金屬的電導率,厚度,形狀等的影響,并且穿透深度及其大小不同。 然后,渦流流動以抵消探針的高頻磁場,從而探針的高頻電阻值改變。高頻電阻值的這種變化被放大,曲線校正并顯示為數(shù)字值。因此,膜厚值可以直接讀取為數(shù)字。曲線校正是由微型計算機計算的。因此,它是高精度和高度穩(wěn)定的。 |
渦流膜厚儀DS-110的規(guī)格
電源 | 帶AC適配器的AC100V-240V |
重量 | 3.4公斤 |
尺寸 | 330(W)x 90(D)x 180(H)毫米 |
渦流膜厚儀DS-110的探頭規(guī)格
1. 探頭有效范圍使用超細探頭時 | φ5mm的 φ3mm的 |
2.探頭線長 | 900毫米 |
3.根據(jù)導向器的類型可以在彎曲的表面上進行測量 | |
4.探頭類型 | MP類型...平坦凹凸曲面(標準) SM類型...平坦凹凸曲面(微細的) RP類型...凹面,管內(nèi)面 SR型...用于小直徑管道內(nèi)表面 由所述膜測得的探頭A,B的厚度,有C和D四種類型。 |
5.探針指南 | #180:平面測量 #120:φ25-60mm凸曲面測量 |