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日本densoku渦流膜測厚儀DS-110

日本densoku渦流膜測厚儀DS-110

更新日期:2024-05-11

訪問量:718

廠商性質:經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:

簡要描述:
日本densoku渦流膜測厚儀DS-110
晶體振蕩可實現(xiàn)
彎曲/球形對的高精度和短測量時間。

日本densoku渦流膜測厚儀DS-110

日本densoku渦流膜測厚儀DS-110

 

?測量值顯示為數(shù)字且易于閱讀
?接通電源后立即開始測量,測量時間在1秒以內(nèi)
?晶體振蕩法的高穩(wěn)定性(±1%)高精度?可進行
檢查無損
?直接讀取由于是表達方式,因此無需轉換

 

渦流膜厚儀DS-110的特點

易于閱讀的數(shù)字

測量值顯示是數(shù)字的,易于閱讀。

可以立即進行測量

開關一打開就可以進行測量。測量時間也在1秒以內(nèi)。

高穩(wěn)定性(±1%)高精度

由于采用了晶體振蕩方法,因此具有很高的穩(wěn)定性(±1%)和高精度。

可以檢查

由于它是非破壞性的,因此可以進行的檢查。

無需轉換

它是直接讀取類型,不需要轉換。

支持各種測量

它可以測量金屬上的薄膜,鍍層,油漆,樹脂等。(例如:鋁上的氧化膜,鐵上的鋅鍍層,噴漆)

最多可保存1000個數(shù)據(jù)

一條檢查線可以保存1000條數(shù)據(jù)。

還可以測量非金屬上的金屬涂層

它可以測量非金屬上的金屬涂層(例如,塑料上的鍍層)。

標配4種類型,最多可以測量70種薄膜厚度

切換開關最多可以測量4種類型的膜厚。另外,通過在制造商處更換檢測線,可以測量70多種類型的膜厚。

可以在彎曲表面,球形表面和內(nèi)部管道上進行測量

也可以在彎曲表面和球形表面上進行測量。另外,可以測量管等的內(nèi)表面(φ12.7mm以上)。

打印輸出功能

您可以打印出測量數(shù)據(jù)和經(jīng)過統(tǒng)計處理的值。

測量原理

測量原理 當載有高頻電流的探頭(測量線圈)靠近金屬時,在金屬表面會產(chǎn)生渦電流。該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率,金屬的電導率,厚度,形狀等的影響,并且穿透深度及其大小不同。
然后,渦流流動以抵消探針的高頻磁場,從而探針的高頻電阻值改變。高頻電阻值的這種變化被放大,曲線校正并顯示為數(shù)字值。因此,膜厚值可以直接讀取為數(shù)字。曲線校正是由微型計算機計算的。因此,它是高精度和高度穩(wěn)定的。

渦流膜厚儀DS-110的規(guī)格

電源帶AC適配器的AC100V-240V
重量3.4公斤
尺寸330(W)x 90(D)x 180(H)毫米

 

渦流膜厚儀DS-110的探頭規(guī)格

1.
 探頭有效范圍使用超細探頭時
φ5mm的
φ3mm的
2.探頭線長900毫米
3.根據(jù)導向器的類型可以在彎曲的表面上進行測量
4.探頭類型MP類型...平坦凹凸曲面(標準)
SM類型...平坦凹凸曲面(微細的)
RP類型...凹面,管內(nèi)面
SR型...用于小直徑管道內(nèi)表面
由所述膜測得的探頭A,B的厚度,有C和D四種類型。
5.探針指南#180:平面測量
#120:φ25-60mm凸曲面測量
 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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