日本反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT 測厚儀

更新日期：2024-05-15

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簡要描述：

日本反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT
F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測量系統(tǒng)?？赏瑫r(shí)測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。

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產(chǎn)品介紹

日本反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT

F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測量系統(tǒng)?？赏瑫r(shí)測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。

只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，無需復(fù)雜設(shè)置，而且設(shè)置非常簡單。

主要特點(diǎn)

集成測量單元和測量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測量系統(tǒng)
光譜范圍廣，可選擇多種光源
反射率和透射率同時(shí)測量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)時(shí)間記錄的相機(jī)測量位置
放個(gè)樣品就行了。無需調(diào)整光學(xué)元件，非常容易設(shè)置

主要應(yīng)用

平板	聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學(xué)膜
光學(xué)鍍膜	玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質(zhì)涂層。
薄膜太陽能電池	CdTe、CIGS、非晶硅等

產(chǎn)品陣容

模型	F10-RT -紫外線	F10-RT	F10-RT -近紅外	F10-RT 　-近紅外	F10-RT 　-UVX
測量波長范圍	190 – 1100nm	380 – 1050nm	950 – 1700nm	380 – 1050nm	190 – 1700nm
膜厚測量范圍	1nm – 40μm	15nm – 70μm	100nm – 150μm	15nm – 150μm	1nm – 150μm
準(zhǔn)確性	± 0.2% 薄膜厚度		± 0.4% 薄膜厚度	± 0.2% 薄膜厚度
準(zhǔn)確性	1納米	2納米	3納米	2納米	1納米
光源	氘· 鹵素	鹵素			氘· 鹵素